栏目导航Navigation

  • 最新动态

半导体参数测试仪的主要功能

自动完成多路硅微条探测器中多条探测单元的I-V特性、C-V特性、击穿特性等参数测量，无需人工一点一点的测量。其主要任务是快速高效地甄别多路硅微条探测性能，从而优化工艺，提高探测器性能，更好的服务于核物理实验。上一篇： 半导体参数测试仪的技术指标 下一篇： 晶体管特性图示仪的相关概念知识